rohs檢測儀是一種檢測rohs的檢測儀，原理是利用X射線檢測rohs標準規定中的元素的含量。目前市場上常見的類型是X射線熒光分析儀，又分為能量色散型和波長色散型，能量色散型因其技術原理及結構比波長色散型簡單，現市場上比較常見。

　　技術原理：

　　放射性同位素源或X射線發生器放出的X射線或Γ射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內層電子。當外層電子補充內層電子時，會放射該原子所固有能量的X射線--特征X射線。

　　不同元素特征X射線能量各不相同，依此進行定性分析；再根據特征X射線強度線強度大小，可進行定量分析。

　　可用函數關系式表示為：C=f(k1I1,k2I2,k3I3...)式中：Kn(n=1,2,3…)表示第n號元素的待定系數；In(n=1,2,3…)表示第n號元素釋放的特征X射線強度，由此可知只要通過標定確定系數Kn之后便可進行物質中元素的定量分析了。

　　分析原理：

　　rohs檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：nλ=2dsinaθ（n=1,2,3…）式中，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特征信息。

　　能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發出的特征射線能量：Q=KE式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特征信息。

　　待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。

　　為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。